您是否需要制备硬的,软的,多孔,热敏感,脆性和/或非均质多相复合型材屮料,获得高质量样品表面,以适宜于扫描电子显微镜(SEM)分析和原子力显微镜(AFM)检测? Leica EM TIC 3X 独特的宽场离子束研磨系统非常适合能谱分析EDS.波谱分析WDS,俄歇分析Auger,背散射电子衍射分析EBSD。离子束研磨技术几乎是唯yi的一个适用于任何材质样品,获得高质量切割截面或抛光平面的解决方案。使用该技术对样品进行处理,样品受到形变或损伤的可能性相当低,***电镜制样设备价格,可暴露出样品内部真实的结构信息。 徕卡三离子束切割仪 可以灵活选择
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